紫外線試驗(yàn)機(jī)的間電荷是電介質(zhì)中的能夠改變局部電場(chǎng)的那部分電荷，他它可能由電子電荷載流子如注入到電極的電子和空穴，從分子離解的電荷載流子電離組成。空間9 電荷可通過同號(hào)電荷和異號(hào)電荷表征，這取決于積累在電極附近的靜電荷的極性。當(dāng)電荷積累與附近的電極有相同極性認(rèn)為是同號(hào)電荷，否則是異號(hào)電荷。同號(hào)電荷減小了電極和電介質(zhì)的界面電場(chǎng)，增加了體內(nèi)的電場(chǎng)強(qiáng)度，而異號(hào)電荷增強(qiáng)了界面場(chǎng)強(qiáng)，減小了體內(nèi)電場(chǎng)強(qiáng)度。
 
 
這些要素的準(zhǔn)確成分是商業(yè)機(jī)密。  紫外試驗(yàn)機(jī)所有的這些添加劑能夠增加和改變局域態(tài)能級(jí)，從而改變能帶圖的能級(jí)分布。局域態(tài)的分布的改變也能夠通過側(cè)鏈或鏈的缺失如羥基和酮起作用，以及C-C雙鍵或三鍵。化學(xué)缺陷和副產(chǎn)物的陷阱深度可通過ab從頭算法如用n-C13H18分子作為參考就算電子親和勢(shì)。
 
紫外線試驗(yàn)機(jī)Menuier等文獻(xiàn)中引述采用這些值對(duì)電子和空穴進(jìn)行分子模擬，用于模擬電荷傳輸，發(fā)現(xiàn)副產(chǎn)物，如α-甲基苯乙烯和乙酰苯會(huì)產(chǎn)生最深能級(jí)的電子陷阱。空穴的最深陷阱能級(jí)可能由三癸烯 分子和α-甲基苯乙烯副產(chǎn)物提供。陷阱能級(jí)（深度）小于0.79eV很難在PEA法的實(shí)驗(yàn)中獲得用提出的模型來估計(jì)陷阱能級(jí)，這是由于電荷的高速遷移和測(cè)量設(shè)備的低速獲取。http://www.mmsdh.cn